人體綜合電阻測(cè)式儀  型號(hào)：031B

人體綜合電阻測(cè)式儀

一． 特點(diǎn)
1. 數(shù)字顯示（電阻值、比如國(guó)標(biāo)防靜電鞋參數(shù)為；0.75MΩ—100MΩ）和LED顯示為一體的智能型人體綜合測(cè)試儀，測(cè)試結(jié)果直觀精確。使用數(shù)顯人體綜合測(cè)試儀，數(shù)字顯示，看得見的結(jié)果。
2． 本產(chǎn)品特點(diǎn)突出可快速測(cè)試ESD裝備，三個(gè)獨(dú)立裝置（左鞋、右鞋、手腕帶）一次完成ESD檢測(cè)。
3． 分別三種狀態(tài)顯示；
   腳腕（靜電鞋）數(shù)字顯示范圍；0.1MΩ－200ＭΩ。
    合格范圍；0.75MΩ-100MΩ.
   LED顯示；LO紅色（低于設(shè)定值）、PASS綠色（設(shè)定值范圍內(nèi)）、HI紅色（高于設(shè)定值）有聲光報(bào)警功能。具體參數(shù)見（二、技術(shù)參數(shù)）。
4． 如果使用其它的電源適配器，電源適配器為DC12V，不能大于15V電壓！擴(kuò)展通訊接口是控制門禁，用戶不要亂使用，不要用金屬物體插入！以免對(duì)儀器造成損壞。

二.技術(shù)參數(shù):
數(shù)字顯示；0.75MΩ-100MΩ.左右腳相同。
儀器尺寸 (W)165mm*(L)97mm*(H)40mm       左鞋設(shè)定植 750KΩ—100MΩ
踏板尺寸 （W）300mm*(L)400mm*(H)20mm  右鞋設(shè)定值 750KΩ—100MΩ
活動(dòng)支架調(diào)整距離 >150cm                              手腕設(shè)定值 750KΩ—10MΩ
總重量      8kg                                               測(cè)試精度 +10%
（以上參數(shù)為國(guó)標(biāo)）
導(dǎo)電鞋為100KΩ—35MKΩ根據(jù)用戶使用條件聲明校正
根據(jù)客戶的需要，可提供門禁繼電器控制信號(hào)。

產(chǎn)品名稱：全自動(dòng)傾點(diǎn)凝點(diǎn)測(cè)定儀 產(chǎn)品型號(hào)：501Z-C

全自動(dòng)傾點(diǎn)凝點(diǎn)測(cè)定儀  型號(hào)：501Z-C

標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 3535  GB/T510
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)溫范圍：-35～60℃；分辨率 0.1℃
范圍：深色石油產(chǎn)品、原油及其他透明或半透明石油產(chǎn)品
測(cè)試樣品數(shù)：2路
測(cè)溫元件：PT100(德國(guó)JUMO公司測(cè)溫傳感器)
檢測(cè)方式：上置式光電液面檢測(cè)器 試樣自動(dòng)傾斜
制冷方式：?jiǎn)螇嚎s機(jī)制冷（法國(guó)DANFOS）
檢測(cè)間隔：由用戶設(shè)定（1～10℃）
冷卻方式：風(fēng)冷
電源供給： 220V±10％AC 50Hz±2Hz
環(huán)境溫度：15～35℃
環(huán)境濕度：30% ～80%RH
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顯    示：漢字顯示
功    率：1500W
主要特點(diǎn)：
該儀器采用分體式結(jié)構(gòu)，消除震動(dòng)對(duì)絮狀物的破壞及對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。
該儀器配備的上置式光電液面檢測(cè)器可檢測(cè)到試樣傾斜時(shí)水平液面的微弱變化，凝點(diǎn)/傾點(diǎn)判斷精確。
該儀器采用了微傾斜技術(shù)，在緩慢傾斜的過程中，一旦檢測(cè)到液面有移動(dòng)，立刻停止傾斜，恢復(fù)垂直狀態(tài)，而不必在多次傾斜后將試管取出進(jìn)行加熱。
自動(dòng)控制，冷卻介質(zhì)與被測(cè)試樣的溫差，保證降溫速度受控且均勻穩(wěn)定。
內(nèi)置微型加熱器使試樣快速升溫，而不必將冷卻介質(zhì)的溫度加熱的過。

瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀 型號(hào)：TCDR-S

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介 
      TCDR-S是利用瞬態(tài)平面熱源技術(shù)（TPS）開發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,可用于各種不同類型材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中的一種，它使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)全新的水平。在研究材料時(shí)能夠快速準(zhǔn)確的測(cè)量熱導(dǎo)率，為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控、材料生產(chǎn)以及實(shí)驗(yàn)室研究提供了極大的方便。該儀器操作方便，方法簡(jiǎn)單易懂，不會(huì)對(duì)被測(cè)樣品造成損壞。 

二、工作原理  
      瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)是用于測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)的一種新型的方法，由瑞典Chalmer理工大學(xué)的Silas Gustafsson教授在熱線法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它測(cè)定材料熱物性的原理是基于無(wú)限大介質(zhì)中階躍加熱的圓盤形熱源產(chǎn)生的瞬態(tài)溫度響應(yīng)。利用熱阻性材料做成一個(gè)平面的探頭，同時(shí)作為熱源和溫度傳感器。合金的熱阻系數(shù)一溫度和電阻的關(guān)系呈線性關(guān)系，即通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映了樣品的導(dǎo)熱性能。該方法的探頭即是采用導(dǎo)電合金經(jīng)刻蝕處理后形成的連續(xù)雙螺旋結(jié)構(gòu)薄片，外層為雙層的絕緣保護(hù)層，厚度很薄，它令探頭具有一定的機(jī)械強(qiáng)度并保持與樣品之間的電絕緣性。在測(cè)試過程中，探頭被放置于樣品中間進(jìn)行測(cè)試。電流通過探頭時(shí)，產(chǎn)生一定的溫度上升，產(chǎn)生的熱量同時(shí)向探頭兩側(cè)的樣品進(jìn)行擴(kuò)散，熱擴(kuò)散的速度依賴于材料的熱傳導(dǎo)特性。通過記錄溫度與探頭的響應(yīng)時(shí)間，由數(shù)學(xué)模型可以直接得到導(dǎo)熱系數(shù)。 

三、測(cè)試對(duì)象 
      金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料（表面平整的隔熱材料、板材）、礦物棉、水泥墻體、玻璃增強(qiáng)復(fù)合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復(fù)合板材、紙蜂窩板、膠體、液體、粉末、顆粒狀和膏狀固體等等，測(cè)試對(duì)象廣泛。 

四、儀器特點(diǎn) 
1、儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2 2008 
2、測(cè)試范圍廣泛，測(cè)試性能穩(wěn)定； 
3、直接測(cè)量，測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時(shí)間； 
4、不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響； 
5、無(wú)須特別的樣品制備，對(duì)樣品形狀并無(wú)特殊要求，塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可； 
6、對(duì)樣品實(shí)行無(wú)損檢測(cè)，意味著樣品可以重復(fù)使用； 
7、探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)，結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型，利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算； 
8、樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀； 
9、探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠； 
10、主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器，運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計(jì)算結(jié)果更加精確； 
11、儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定； 

五、技術(shù)參數(shù)：      
測(cè)試范圍:0.005—300 W/(m*K) 
測(cè)量樣品溫度范圍:室溫—130℃ 
探頭直徑：一號(hào)探頭7.5mm；二號(hào)探頭15mm 
精度:±3% 
重復(fù)性誤差:≤3% 
測(cè)量時(shí)間:5~160秒 
電源:AC 220V 
整機(jī)功率：﹤500w 
樣品溫升﹤15℃ 
測(cè)試樣品功率P： 一號(hào)探頭功率0樣品規(guī)格：一號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品（15*15*3.75mm） 
                二號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品 (30*30*7.5mm) 
注：1號(hào)探頭所測(cè)的是厚度較薄的低導(dǎo)材料。如所測(cè)樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進(jìn)行疊加